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产品类别：X射线镀层厚度分析仪
产品名称：臻迈_日立X-Strata 920 镀层厚度分析仪
产品详情
日立X-Strata920系列X射线荧光测厚仪
产品概述：
X-Strata920系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows 7中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对X-Strata920主机的全面自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
产品特点：
X-Strata920系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。
X-Strata920系列采用开槽式样品室，它可提供三种规格的样品台供用户选用，分别为：
标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
加深台：可调高度型标准样品台，XY轴手动控制、Z轴自动控制。
程控样品台：XYZ轴自动控制。
产品规格：
| No. | 主要规格 | 规格描述 | |||
| 1 | 激发系统 | 垂直从上至下照式光学系统 | |||
| 空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 | |||||
| 标准靶材： W | |||||
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功率：50W (4-50kV，0-1.0mA)－标准 功率可编程控制 |
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装备有安全防射线光闸 |
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| 2 | 滤光片程控交换系统 | 根据靶材，标准装备有相应的一次滤光片系统 | |||
| 二次滤光片：3个位置程控交换，Co、Ni、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 | |||||
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位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口 |
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| 3 | 准直器程控交换系统 | 最多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制 | |||
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多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16 mil等 |
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| 4 | 测量斑点尺寸 | 在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) | |||
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在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) |
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| 5 | X射线探测系统 | 封气正比计数器 | |||
| 装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路 | |||||
| 6 | 样品室 | X-Strata 920 | |||
| －样品室结构 | 开槽式样品室 | ||||
| －最大样品台尺寸 | 长宽610mm x 610mm | ||||
| －最大样品高度 | 标准台33mm | 加深台160mm | 程控台33mm | ||
| －XY轴程控移动范围 | 标准：152.4 x 177.8mm | ||||
| －Z轴程控移动高度 | 43.18mm | ||||
| －XYZ三轴控制方式 | 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 | ||||
| －样品观察系统 |
高分辨、彩色、实时CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。 明暗度可调，具有刻度的十字标尺 |
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| 激光辅助聚焦功能 | |||||
| 7 | 计算机系统配置 |
联想计算机：2.8G奔腾IV处理器，1G内存，1.44M软驱，250G硬盘，CD-ROM，鼠标，键盘，17寸液显，或更高配置。 |
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| 8 | 分析应用软件 |
操作系统：Windows7.0中文平台 分析软件包：SmartLink FP软件包 |
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| －测厚范围 | 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。请告诉牛津仪器您的具体应用，我们将列表可测定的厚度范围 | ||||
| －基本分析功能 | 无标样检量线测厚，可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。 | ||||
| 样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的金属离子浓度分析为软件选配项目) | |||||
| 可检测元素范围：Ti22 – U92 | |||||
| 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正 | |||||
| 组成分析时，可同时测定15种元素 | |||||
| 贵金属检测，如Au karat评价（软件选配项） | |||||
| 材料和合金元素分析 | |||||
| 材料鉴别和分类检测（软件选配项） | |||||
| 液体样品分析，如镀液中的金属元素含量 | |||||
| 多达4个样品的光谱同时显示和比较 | |||||
| 元素光谱定性分析 | |||||
| －调整和校正功能 | 系统自动调整和校正功能：校正X射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响，自动消除系统漂移 | ||||
| 谱峰计数时，峰漂移自动校正功能 | |||||
| 谱峰死时间自动校正功能 | |||||
| 谱峰脉冲堆积自动剔除功能 | |||||
| 标准样品和实测样品间，密度校正功能 | |||||
| 谱峰重叠剥离和峰形拟合计算 | |||||
| －测量自动化功能 | 鼠标激活测量模式：“Point and Shoot” | ||||
| 多点自动顺序测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式 | |||||
| 测量位置预览功能 | |||||
| 激光对焦和自动对焦功能 | |||||
| －样品台程控功能 | 设定测量点 | ||||
| One or Two Datumn (reference) Points on each file | |||||
| 测量位置预览(图表显示) | |||||
| －统计计算功能 | 平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 | ||||
| 数据分组、X-bar/R图表 | |||||
| 直方图 | |||||
| 数据库存储功能 | |||||
| 任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书 | |||||
| －系统安全监测功能 | Z轴保护传感器 | ||||
| 样品室门开闭传感器 | |||||
| 操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师 | |||||
