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镀层厚度分析仪释义

时间:2018-06-05 02:05:00来源:admin浏览次数:648

采用X射线聚光系统,适用于微小样品的镀层测量及RoHS分析
MAXXI6的X射线发生系统是X射线聚光系统(聚光导管)与X射线源相结合,产生束斑直径为Φ0.1mm以下高强度的X射线束,与不采用此技术时相比能得到10倍以上的强度。所以MAXXI6可以对以往由于X射线照射强度不足而导致无法得到理想精度的导线架、接插头、柔性线路板等微小零件及薄膜进行测量。同时,采用了高计数率、高分辨率的半导体检测器(无需液氮),在测量镀膜厚度的同时,对于欧盟的RoH&ELV法规所限制的有害元素的分析测量也十分有效。

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